SEM納米探針臺產品實現了三維空間上的準確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程......
ZP3-4微納探針臺可在納米尺度上對樣品和測試設備進行電學表征。...
透射電鏡原位高溫力學測量系統(定量力+電+三維操縱+加熱）同時集成了力學測量模塊......
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統（非定量力+電+光+加熱）是一種革命性的......
PicoFemto透射電鏡原位光電性質測試系統（非定量力+電+光+三維操縱）在標......
PicoFemto透射電鏡原位低溫電學測試系統（非定量力+電+低溫+三維操縱）在......
透射電鏡原位力學-電學測量系統（定量力+電+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿......
